應(yīng)用筆記|SPI讀取數(shù)據(jù)的最后一位出錯(cuò)問(wèn)題

快訊 來(lái)源:面包芯語(yǔ) 2023-08-18 18:25:53


(相關(guān)資料圖)

根據(jù)客戶的描述,初期懷疑是否是不同F(xiàn)lash廠家的兼容性問(wèn)題,現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)一步測(cè)試,發(fā)現(xiàn)客戶軟件在70℃環(huán)境溫度下,除了program、erase時(shí)寄存器會(huì)讀錯(cuò)數(shù)據(jù),用只讀指令0x03也會(huì)讀錯(cuò)數(shù)據(jù)(0x55、0xaa會(huì)被軟件讀成0x54、0xab)。

根據(jù)這個(gè)結(jié)果,我們懷疑到tCLQV這個(gè)參數(shù)??瓷先ギ?dāng)前的軟件是在flash輸出數(shù)據(jù)時(shí),在CLK下降沿時(shí)去采集flash MO數(shù)據(jù)的,所以高溫引起的細(xì)微的tCLQV變化可能會(huì)導(dǎo)致軟件采集出錯(cuò)。我們建議MCU在下一個(gè)CLK的上升沿去采集數(shù)據(jù),此時(shí)flash MO數(shù)據(jù)已經(jīng)穩(wěn)定為1。

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